El Centro de Investigaciones de Metrología (CIM), Instituto Nacional de Metrología del país y que forma parte del Consejo Nacional de Calidad, organizó el Primer Foro de Metrología Legal, en el marco de la Asamblea General del Sistema Interamericano de Metrología, siendo El Salvador el país anfitrión de este año.
El Foro tuvo la participación de delegaciones de 22 países integrantes del Sistema Interamericano de Metrología además de organismos internacionales. El Foro tuvo como objetivo sensibilizar a las autoridades nacionales y de la región centroamericana sobre la importancia de la Metrología Legal como una actividad para establecer requisitos sobre mediciones, instrumentos y métodos para garantizar la confiabilidad de los resultados en la regulación nacional.
La inauguración del Foro estuvo presidida por la Directora del CIM, Ing. Claudia Estrada; Ing. Fernando Díaz, Secretario de Energía de Panamá y delegado del Presidente Pro Témpore del SICA; Dr. Werner Vargas, Director ejecutivo del SICA; Dr. Héctor Laiz, presidente del Sistema Interamericano de Metrología y Ulf Hillner, jefe de la Cooperación para América latina y el Caribe del Instituto Nacional de Metrología de Alemania (PTB).
Durante el foro se abordaron temas tales como: La confianza en las mediciones en materia de Eficiencia Energética, aplicación de la Metrología Legal en Balanzas de carreteras y aduanas y su impacto en el comercio, los controles y verificaciones de los equipos utilizados en la red de hospitales públicos, entre otros temas trascendentales en el desarrollo económico del país.
El Foro de Metrología Legal tuvo como exponentes a representantes de los Institutos que pertenecen al SIM y al PTB de Alemania, al Organismo Internacional de Metrología Legal OIML, a la Secretaría de la Integración Centroamericana – SICA y a Unidades de Verificación de origen privado.